[发明专利]一种用于荧光切片扫描仪的平场校正方法有效

专利信息
申请号: 202010192419.7 申请日: 2020-03-18
公开(公告)号: CN111462001B 公开(公告)日: 2023-06-09
发明(设计)人: 刘炳宪;谢菊元;王焱辉;王克惠;丁科迪 申请(专利权)人: 宁波江丰生物信息技术有限公司
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;G01N15/14;G01N21/64
代理公司: 上海申新律师事务所 31272 代理人: 吴轶淳
地址: 315400 浙江省宁*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明涉及图像平场校正技术领域,具体涉及一种用于荧光切片扫描仪的平场校正方法,通过一荧光片扫描仪对多个的单视野图像进行扫描,并对所述图像进行一预定点位的灰度值采集,根据灰度值计算得到所述图像在所述预定点位的像素灰度平均值、背景计算值以及一前景计算值;再计算出所述图像在所有点位的所述前景计算值的平均值,最后根据所述图像在所述预定点位的像素灰度值、所述背景计算值、所述前景计算值及所述前景计算值的平均值计算得到所述图像校正后的像素灰度值;将得到的像素灰度值替换掉校正前的像素值,得到所述图像的平场校正。本发明可以获得高质量的平场效果,有效抑制背景亮度,提高荧光目标亮度,使整体切片效果更美观。
搜索关键词: 一种 用于 荧光 切片 扫描仪 校正 方法
【主权项】:
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