[发明专利]一种基于TEM小室的IC电磁兼容测试装置在审
| 申请号： | 202010184352.2 | 申请日： | 2020-03-17 |
| 公开（公告）号： | CN111308322A | 公开（公告）日： | 2020-06-19 |
| 发明（设计）人： | 胡玉生;范峻 | 申请（专利权）人： | 集美大学 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/18 |
| 代理公司： | 厦门市精诚新创知识产权代理有限公司 35218 | 代理人： | 方惠春 |
| 地址： | 361000 福*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明涉及IC电磁兼容测试领域。本发明公开了一种基于TEM小室的IC电磁兼容测试装置，包括TEM小室、被测的集成电路和PCB板，所述TEM小室的尺寸与集成电路的尺寸同一数量级，所述TEM小室的底部设有一开口，所述开口的尺寸略大于集成电路的尺寸，所述集成电路安装在PCB板上，所述集成电路的周围及底部的PCB板上分别设有周围接地导体和底部接地导体，所述TEM小室通过其底部的开口罩设在集成电路上，且TEM小室的底部与周围接地导体紧密接触形成完整屏蔽。本发明扩展了测试频率，无需设计专用测试PCB板，操作方便，可进行在线测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 tem 小室 ic 电磁 兼容 测试 装置 | ||
【主权项】：
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