[发明专利]基于光栅测量陶瓷中釉质线性热膨胀系数的装置与方法在审

专利信息
申请号: 202010171501.1 申请日: 2020-03-12
公开(公告)号: CN111272804A 公开(公告)日: 2020-06-12
发明(设计)人: 王晓霞;王卫林;王芬;何立风 申请(专利权)人: 陕西科技大学
主分类号: G01N25/16 分类号: G01N25/16;G01B11/02
代理公司: 西安智大知识产权代理事务所 61215 代理人: 杨晔
地址: 710021 陕西省*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 基于光栅测量陶瓷中釉质线性热膨胀系数的装置与方法,本装置包括光循环器以及与光循环器连接的宽带光源、光谱仪和光开关,还有和光开关连接并设置在加热炉中的光栅传感器;该装置通过测出不同温度下光栅使来自光源的光经干涉前后发生的波长漂移量,再结合其他参数,进而推算出陶瓷釉在基准方向上的线性热膨胀率;本发明设计精妙、构思精巧、具有较高精密度和准确度。
搜索关键词: 基于 光栅 测量 陶瓷 釉质 线性 热膨胀 系数 装置 方法
【主权项】:
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