[发明专利]集成于MCU的开盖检测电路和基于MCU的开盖检测方法在审
| 申请号： | 202010168884.7 | 申请日： | 2020-03-12 |
| 公开（公告）号： | CN111323626A | 公开（公告）日： | 2020-06-23 |
| 发明（设计）人： | 曾培楷;易文;苗书立;赵琮 | 申请（专利权）人： | 深圳市锐能微科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R11/24 | 分类号： | G01R11/24;G05B19/042 |
| 代理公司： | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人： | 胡鹏飞 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种集成于MCU的开盖检测电路和电能表控制芯片，基于电表的电能存储设备独立供电工作，实时时钟模块和其他模块都可以低功耗运行，其功率低，保证在交流电断电的时候，只有电能存储设备供电的情况下，还能通过MCU的开盖检测电路进行电表开盖检测；另外，上述的方法和电路通过检测开关检测引脚的电平状态变化并以预设规则确定是否有开盖或者闭盖事件发生，设置预设规定可以避免干扰信号对开关检测引脚的误触发，记录错误的开盖或闭盖的事件，提高开盖检测的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 集成 mcu 检测 电路 基于 方法 | ||
【主权项】：
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