[发明专利]检测高分子导电膜的检测片及其制备方法和使用方法在审
| 申请号： | 202010168742.0 | 申请日： | 2020-03-12 |
| 公开（公告）号： | CN111239200A | 公开（公告）日： | 2020-06-05 |
| 发明（设计）人： | 鲜盛鸣;曾建坤;刘芷余;刘秀芳;陈衍科;刘亮军;肖可人 | 申请（专利权）人： | 深圳市富翔科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/04 | 分类号： | G01N27/04;G01N27/00;G01N21/84;G01N1/28;G01N1/32;G01B5/02;H05K1/02;H05K3/00;H05K3/06 |
| 代理公司： | 深圳市鼎泰正和知识产权代理事务所(普通合伙) 44555 | 代理人： | 缪太清 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区松岗街道办沙浦围创业工业区第11栋*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种检测高分子导电膜的检测片，包括覆铜基板，覆铜基板上包含有上铜速率测试区；上铜速率测试区内设置有无铜区域，无铜区域为在覆铜基板上蚀刻形成的基材裸露区域；覆铜基板上还包含有电阻测试区；电阻测试区内设置有线路和焊盘，线路和焊盘为覆铜基板经蚀刻后保留下来的覆铜区域。本发明还公开了上述检测片的制备方法和使用方法，本发明能够快速检测高分子导电膜的电阻和电镀上铜速率和进行金属化孔的背光测试，为及时保养、换缸、排除质量隐患提供参考依据；而且制备方法操作简易，高效快捷，使用方法能够适应现有的工业化生产工艺的需求。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 高分子 导电 及其 制备 方法 使用方法 | ||
【主权项】：
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