[发明专利]一种上电缓冲电阻的性能测试方法、装置及设备有效
| 申请号： | 202010164844.5 | 申请日： | 2020-03-10 |
| 公开（公告）号： | CN111157831B | 公开（公告）日： | 2021-02-05 |
| 发明（设计）人： | 胡陈;陈楷盛;陈建权 | 申请（专利权）人： | 浙江禾川科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R19/00 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 薛娇 |
| 地址： | 324400 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种上电缓冲电阻的性能测试方法，考虑到待测缓冲电阻在损坏后通常会形成断路，直流电源便无法正常地通过待测缓冲电阻为储能电容充电，因此本申请可以在储能电容被充电预设时段后且储能电容的电压值不大于预设阈值的情况下判定待测缓冲电阻失效，能够准确地对上电缓冲电阻的性能进行测试，也即能够在已知上电缓冲电阻性能的情况下对伺服驱动器或者变频器进行使用，消除了安全隐患。本发明还公开了一种上电缓冲电阻的性能测试装置及设备，具有如上上电缓冲电阻的性能测试相同的有益效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 缓冲 电阻 性能 测试 方法 装置 设备 | ||
【主权项】：
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