[发明专利]双复合式坐标测量系统的联合位置误差的同步检测方法有效
| 申请号： | 202010113496.9 | 申请日： | 2020-02-24 |
| 公开（公告）号： | CN111238372B | 公开（公告）日： | 2021-05-25 |
| 发明（设计）人： | 周森;徐健;陶磊;颜宇;黄勇;张涛 | 申请（专利权）人： | 重庆市计量质量检测研究院 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 重庆博凯知识产权代理有限公司 50212 | 代理人： | 周玉玲 |
| 地址： | 401121*** | 国省代码： | 重庆;50 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种双复合式坐标测量系统的联合位置误差的同步检测方法，能够将两个联合位置误差溯源到同一激光干涉系统上，采用激光干涉系统建立参考坐标系，获取参考坐标系分别关于第一子坐标系、第二子坐标系的旋转关系；根据旋转关系将检测点在子坐标系中的位置坐标转换到参考坐标系中，得到旋转位置坐标；根据旋转位置坐标进行数据拟合，得到被测标准单元的拟合中心坐标；确定出被测标准单元中心点在参考坐标系中的参考位置坐标，作为被测标准单元中心点的实际位置坐标；以被测标准单元中心点的实际位置坐标为中心，作一个包含被测单元所有拟合中心坐标的最小外接球，所述最小外接球的直径作为联合位置误差。 | ||
| 搜索关键词： | 复合 坐标 测量 系统 联合 位置 误差 同步 检测 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于重庆市计量质量检测研究院，未经重庆市计量质量检测研究院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010113496.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
