[发明专利]测绘仪器和校准测绘仪器的方法有效
申请号: | 202010096875.1 | 申请日: | 2020-02-17 |
公开(公告)号: | CN111580072B | 公开(公告)日: | 2023-09-12 |
发明(设计)人: | M·弗格尔 | 申请(专利权)人: | 特里伯耶拿有限公司 |
主分类号: | G01S7/497 | 分类号: | G01S7/497;G01S17/89;G01S7/481 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 黄志华;何月华 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明公开了测绘仪器和校准测绘仪器的方法。测绘仪器(1)包括:基座(3);相对于基座(3)绕第一轴线(9)可旋转的照准部(7);以及光学测量仪器(11),光学测量仪器(11)具有相对于照准部(7)绕第二轴线(13)可旋转的测量轴线(17)。可以使用包括光源(39)、透镜(43)、反射镜(50、52)、分束器(47)以及位置灵敏检测器(41)的部件为光束提供光束路径。通过使用上述部件,在照准部相对于基座的不同取向和光学测量仪器相对于照准部的不同取向处执行多次测量,可以对测绘仪器进行校准。 | ||
搜索关键词: | 测绘 仪器 校准 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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