[发明专利]用于存储装置中的加速内核的状态监测的方法及系统有效
申请号: | 202010093269.4 | 申请日: | 2020-02-14 |
公开(公告)号: | CN111858228B | 公开(公告)日: | 2023-02-03 |
发明(设计)人: | 迪维亚·萨班纳;维尼特·萨达南德·艾普特;拉姆达斯·卡查瑞 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G06F11/30 | 分类号: | G06F11/30;G06F13/12 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 刘灿强;张川绪 |
地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 提供了一种用于存储装置中的加速内核的状态监测的方法及系统。所述方法包括:通过存储装置的控制器从主机接收异步事件报告(AER)命令,AER命令对应于通过主机分配给加速协处理器上的第一加速内核的第一操作;将接收的AER命令添加到控制器中的查找表中;从与第一操作对应的第一加速内核接收完成消息;将接收的完成消息和查找表中的AER命令进行比较;并且当在接收的完成消息与查找表中的AER命令中的一个之间发现匹配时,将命令完成条目发送到主机。 | ||
搜索关键词: | 用于 存储 装置 中的 加速 内核 状态 监测 方法 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社,未经三星电子株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010093269.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:电气组件和方法
- 下一篇:半导体结构、半导体芯片及半导体结构的制造方法