[发明专利]单晶片的内建温度侦测装置及其保护机制有效
| 申请号： | 202010082393.0 | 申请日： | 2020-02-07 |
| 公开（公告）号： | CN112824985B | 公开（公告）日： | 2022-06-24 |
| 发明（设计）人： | 涂结盛 | 申请（专利权）人： | 新唐科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G05B19/042 | 分类号： | G05B19/042;G01K7/00 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 周晓飞;许曼 |
| 地址： | 中国台湾新竹*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种单晶片的内建温度侦测装置及其保护机制，其中，该单晶片的内建温度侦测装置包含一内建温度侦测器与一温度比较器。该内建温度侦测器侦测所述单晶片的一单晶片温度。该温度比较器接收该单晶片温度与一临界温度，且比较该单晶片温度与该临界温度，以产生一输出信号，以采取必要的保护机制。 | ||
| 搜索关键词： | 晶片 温度 侦测 装置 及其 保护 机制 | ||
【主权项】：
暂无信息
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