[发明专利]光时域反射仪及光脉冲试验方法有效

专利信息
申请号: 202010065935.3 申请日: 2020-01-20
公开(公告)号: CN111487034B 公开(公告)日: 2022-04-05
发明(设计)人: 村上太一 申请(专利权)人: 安立股份有限公司
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 李芳华
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种光时域反射仪,具备:存储部(20),将对使用第1脉冲宽度W1测量到的与需连接的被测量光纤的连接点(DD)中的背向散射光等级(PZ(W1))加预先设定的参考距离DR下的使用大于第1脉冲宽度的第2脉冲宽度W2测量到的第2背向散射光等级(PR(W2))与预先设定的参考距离DR下的使用第1脉冲宽度测量到的第1背向散射光等级(PR(W1))的差分(ΔPR)而得的第3背向散射光等级(PZ(W2)),在进行试验之前与第2脉冲宽度建立对应关联而存储;及运算处理部(18),为了进行试验而从存储部读出与从光源输出至被测量光纤的光脉冲的脉冲宽度对应的第2脉冲宽度下的第3背向散射光等级(PZ(W2)),并使用所读出的第3背向散射光等级(PZ(W2))求出被测量光纤中的传输损失LT
搜索关键词: 时域 反射 脉冲 试验 方法
【主权项】:
暂无信息
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