[发明专利]一种液晶模组老化测试设备在审
| 申请号： | 202010057614.9 | 申请日： | 2020-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN111063283A | 公开（公告）日： | 2020-04-24 |
| 发明（设计）人： | 倪传周;沐林;严吉新;殷建东 | 申请（专利权）人： | 苏州华兴源创科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00;G09G3/36;G01R31/00;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人： | 李远思 |
| 地址： | 215000 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种液晶模组老化测试设备，包括老化腔室，所述老化腔室内至少包括有一条IP通道；至少一台液晶模组老化测试装置；位于所述老化腔室内的且与所述液晶模组老化测试装置对应设置的IP存储芯片，所述IP存储芯片与所述IP通道之间实现信号通信；所述IP存储芯片被配置为为所述液晶模组老化测试装置提供独立的IP地址。本发明提供的液晶模组老化测试设备，可实现多台液晶模组老化测试装置级联，进行集中控制实时监控，方便使用者对设备进行控制更新和监控，节省更新时间，确保液晶模组老化测试装置实际位置与软件中显示位置保持匹配。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 液晶 模组 老化 测试 设备 | ||
【主权项】：
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