[发明专利]电源电路老化装置及老化试验方法在审
申请号: | 202010054254.7 | 申请日: | 2020-01-17 |
公开(公告)号: | CN113219318A | 公开(公告)日: | 2021-08-06 |
发明(设计)人: | 王士江 | 申请(专利权)人: | 圣邦微电子(北京)股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R31/40 |
代理公司: | 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 | 代理人: | 蔡纯;李镇江 |
地址: | 100089 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本发明公开了一种电源电路老化装置及老化试验方法,电源电路老化装置包括:电源模块,用于提供供电电压;升压模块,与电源模块连接,接收供电电压,并对供电电压进行升压后输出第一电压信号;降压模块,与升压模块连接,接收第一电压信号,并对第一电压信号进行降压后输出第二电压信号;功率电阻,串联于降压模块的输出端与升压模块的输入端之间,根据第二电压信号和供电电压产生环路电流,并将环路电流提供至升压模块的输入端。该电源电路老化装置减小了试验过程中对电源的消耗,实现电能的循环利用。 | ||
搜索关键词: | 电源 电路 老化 装置 老化试验 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于圣邦微电子(北京)股份有限公司,未经圣邦微电子(北京)股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010054254.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。