[发明专利]一种基于高光谱技术的复合绝缘子老化程度检测方法有效
| 申请号： | 202010051968.2 | 申请日： | 2020-01-17 |
| 公开（公告）号： | CN111239073B | 公开（公告）日： | 2020-12-29 |
| 发明（设计）人： | 郭裕钧;张玉翠;张血琴;刘凯;吴广宁;杨雁;李春茂 | 申请（专利权）人： | 西南交通大学 |
| 主分类号： | G01N21/3563 | 分类号： | G01N21/3563;G01N23/2251;G01N21/17;G01N13/02;G06T7/00 |
| 代理公司： | 成都正华专利代理事务所(普通合伙) 51229 | 代理人： | 陈选中 |
| 地址： | 610031*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于高光谱技术的复合绝缘子老化程度检测方法可以实现对复合绝缘子的非接触、快速无损伤检测；能够从各特征参量上实现高光谱谱线到老化程度的信息映射；能够通过建立的模型对绝缘子老化程度进行分析，对更换老化程度高的绝缘子提供指导和参考，提高输电线路供电稳定性与安全性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 光谱 技术 复合 绝缘子 老化 程度 检测 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西南交通大学，未经西南交通大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010051968.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
