[发明专利]一种基于电磁周期结构阻抗特性判别透过率性能的方法在审
| 申请号： | 202010029077.7 | 申请日： | 2020-01-12 |
| 公开（公告）号： | CN111208171A | 公开（公告）日： | 2020-05-29 |
| 发明（设计）人： | 郭敏;付云起;桑迪;陈强;郑月军;林沂;袁方;郭田田 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军国防科技大学 |
| 主分类号： | G01N27/02 | 分类号： | G01N27/02 |
| 代理公司： | 国防科技大学专利服务中心 43202 | 代理人： | 王文惠 |
| 地址： | 410073 湖*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明提供一种基于电磁周期结构阻抗特性判别透过率性能的简易方法。技术方案是：首选，在归一化阻抗实部和虚部坐标系下绘制若干典型透过率的曲线值，将平面划分为不同透过率值的区间，用于电磁周期结构透过率的判断。再将电磁周期结构的归一化阻抗值标记在具有不同透过率的圆图上，即可得到电磁周期结构的透过率。本发明将阻抗特性和透过率之间的计算转化为坐标系中的标记读数的直观方法，简化了工作量，可以更加方便的应用于具有不同透过率的电磁周期结构设计。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 电磁 周期 结构 阻抗 特性 判别 透过 率性 方法 | ||
【主权项】：
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