[发明专利]电子设备内部尘点检测方法有效
| 申请号： | 202010023040.3 | 申请日： | 2020-01-09 |
| 公开（公告）号： | CN111257335B | 公开（公告）日： | 2023-01-24 |
| 发明（设计）人： | 向胜 | 申请（专利权）人： | OPPO（重庆）智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/94 | 分类号： | G01N21/94 |
| 代理公司： | 深圳市慧实专利代理有限公司 44480 | 代理人： | 孙东杰 |
| 地址： | 401120 重庆*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本申请提供一种电子设备内部尘点检测方法，所述电子设备内部尘点检测方法包括：提供电子设备，所述电子设备包括本体和透光盖板，所述本体具有待检测区域，所述透光盖板正对所述待检测区域；向所述透光盖板外表面输出含有阴离子的除尘气体，所述除尘气体中和所述透光盖板外表面的阳离子，降低所述透光盖板外表面的静电吸附力；除去吸附在所述透光盖板外表面的外部尘点；检测导光通道内的尘点，其中，所述导光通道为光线透过所述透光盖板至所述待检测区域的通道。本实施方式在检测所述所述导光通道内的尘点之前，除去吸附在所述透光盖板外表面的外部尘点，避免所述透光盖板外表面的所述外部尘点干扰对所述导光通道内的尘点的检测。 | ||
| 搜索关键词： | 电子设备 内部 检测 方法 | ||
【主权项】：
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