[发明专利]数据库测试方法、系统、电子设备和存储介质在审
| 申请号： | 202010010799.8 | 申请日： | 2020-01-06 |
| 公开（公告）号： | CN113076240A | 公开（公告）日： | 2021-07-06 |
| 发明（设计）人： | 戴纪宏;陈峰;于永华;刘晓东;郭程 | 申请（专利权）人： | 中芯国际集成电路制造（天津）有限公司;中芯国际集成电路制造（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京睿派知识产权代理事务所(普通合伙) 11597 | 代理人： | 刘锋 |
| 地址： | 300000 天津市*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 公开了一种数据库测试方法、系统、电子设备和存储介质。通过从生产环境中获取执行事务，根据执行事务生成总任务队列，将各任务分别发送至参考数据库和待测数据库，通过参考数据库和待测数据库分别执行所述总任务队列中的任务以获取执行结果集和执行时间，比较参考数据库和待测数据库的执行结果集和执行时间以获取测试结果。可以对数据库进行自动测试，减小数据库测试的成本，提高数据库测试的全面性和准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 数据库 测试 方法 系统 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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