[发明专利]一种高损耗材料微波介电性能的高精度测试方法

摘要

本发明公开了一种采用电场对称结构测量高损耗材料微波介电性能的方法，在传统谐振法的基础上，采用具有电场对称结构的微扰法，主要由以下结构组成：TE011模式金属谐振腔体、高Q值的圆环形TE011模式介质谐振器、耦合调节装置和圆形长棒状待测试样。通过TE011模式环形谐振器和金属谐振腔体，可将测试频率限定于某一个特定频率范围。测试过程中，将圆形长棒状待测试样放入圆环形TE011模式介质谐振器中，可让被测样品更好地处于金属谐振腔体轴心位置，减小位置偏移带来的误差，保证了电场结构为对称结构，改善了两种不同电性能材料界面处的电场分布均匀性，可有效提高介电性能的测试精度。