[实用新型]孔深测量机构及孔深测量装置有效

专利信息
申请号: 201921714125.5 申请日: 2019-10-12
公开(公告)号: CN210922538U 公开(公告)日: 2020-07-03
发明(设计)人: 吴年汉;邬豪;陈领;陶冶 申请(专利权)人: 四川大学
主分类号: G01B11/22 分类号: G01B11/22
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 郭斌莉
地址: 610000 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 实用新型公开了一种孔深测量机构及孔深测量装置,涉及孔深测量技术领域。该孔深测量机构包括基座、激光探测组件、位移测量组件以及驱动执行组件。驱动执行组件固定设置于基座且包括运动件,运动件与激光探测组件连接且带动激光探测组件沿第一方向滑动,位移测量组件包括滑动配合的定尺和动尺,定尺与基座固定连接,动尺与激光探测组件固定连接。激光探测组件包括激光发生组件和控制器,控制器与激光发生组件电连接。该孔深测量机构设计合理,操作方便,能够针对通孔和盲孔进行孔深的测量,误差小,精度高,且测量快速,适用于自动化生产线中使用,使用范围广。
搜索关键词: 测量 机构 装置
【主权项】:
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