[实用新型]一种光学薄膜测厚仪有效
| 申请号： | 201921704449.0 | 申请日： | 2019-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN211317217U | 公开（公告）日： | 2020-08-21 |
| 发明（设计）人： | 吴昊;张文斌;江洁;郭德伟;王鸿钧 | 申请（专利权）人： | 红河学院 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 北京棘龙知识产权代理有限公司 11740 | 代理人： | 戴丽伟 |
| 地址： | 661199 云南省红*** | 国省代码： | 云南;53 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种光学薄膜测厚仪，包括测厚仪本体，所述测厚仪本体上设置有减震支撑机构，所述测厚仪本体上设置有防尘机构，通过测厚仪本体、减震支撑机构和防尘机构构成本实用新型的主体结构，其中测厚仪本体为光学精密仪器，减震支撑机构第一支撑弹簧、第二支撑弹簧和支撑座在套座内滑动可以调节并吸收外界振动，减少外界振动对测厚仪本体的破坏，防尘机构可左右滑动，方便使用测厚仪本体并对其进行防尘处理，其中防尘挡板、防尘侧板、防尘上板和活动防尘板共同组成防尘组件，并通过门母扣与门子扣扣合，门栓进行固定，将测厚仪本体上部元件完全包裹，减少灰尘沉积在测厚仪本体上，保证测量的精准性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学薄膜 测厚仪 | ||
【主权项】：
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