[实用新型]双通道变频系统的相位增益全温度自动化测试装置有效
| 申请号： | 201921148000.0 | 申请日： | 2019-07-19 |
| 公开（公告）号： | CN210168033U | 公开（公告）日： | 2020-03-20 |
| 发明（设计）人： | 包晓军;李琳;刘会涛;王育才;刘远曦;王永刚;林政汉 | 申请（专利权）人： | 珠海纳睿达科技有限公司 |
| 主分类号： | H04B1/00 | 分类号： | H04B1/00;H04B17/15;H04B17/29;H04L12/24;H04L12/26 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 伍志健 |
| 地址： | 519080 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种双通道变频系统的相位增益全温度自动化测试装置，适用于测试带有增加上下变频部分的双通道模拟TR组件。该相位增益全温度自动化测试装置包括：频率源，用于输出指定频率的信号；变频器，用于上下变频信号的频率；中频放大模块，用于放大中频信号；大功率射频开关，分别联接待测试的所述双通道模拟TR组件的A端口和B端口到所述变频器；单刀多掷开关，分别联接待测试的所述双通道模拟TR组件的高本振和低本振到频率源；中频开关模块，分别联接待测试的所述双通道模拟TR组件的中频端口组到所述中频放大模块；以及网络分析仪，联接所述中频放大模块到所述变频器以形成检测通路；其中，所述双通道模拟TR组件设置在温度可控的温箱内部。 | ||
| 搜索关键词： | 双通道 变频 系统 相位 增益 温度 自动化 测试 装置 | ||
【主权项】：
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