[实用新型]双通道变频系统的相位增益全温度自动化测试装置

说明书

一种双通道变频系统的相位增益全温度自动化测试装置，适用于测试带有增加上下变频部分的双通道模拟TR组件。该相位增益全温度自动化测试装置包括：频率源，用于输出指定频率的信号；变频器，用于上下变频信号的频率；中频放大模块，用于放大中频信号；大功率射频开关，分别联接待测试的所述双通道模拟TR组件的A端口和B端口到所述变频器；单刀多掷开关，分别联接待测试的所述双通道模拟TR组件的高本振和低本振到频率源；中频开关模块，分别联接待测试的所述双通道模拟TR组件的中频端口组到所述中频放大模块；以及网络分析仪，联接所述中频放大模块到所述变频器以形成检测通路；其中，所述双通道模拟TR组件设置在温度可控的温箱内部。

技术领域

本实用新型涉及天线设备测试技术领域，尤其涉及一种双通道变频系统的相位增益全温度自动化测试装置。

背景技术

ATR组件是一种附带有上下变频部分的双通道模拟TR(Transmitter andReceiver) 组件。该电子元件是现代有源相控阵雷达系统的核心部件，其主要功能是实现射频微波信号的收发、增益、相移等指标的自动控制。因此，在有源相控阵雷达系统的每个天线单元中均配置有一个ATR组件作为雷达射频前端。

在实际应用中，因为单个有源相控阵雷达系统一般需要集合数千个独立的ATR 组件，所以在雷达的生产过程中ATR组件生产和测试数量极大。一方面，ATR组件的制造工艺复杂，功能部件较多：既有大功率电平发射通道，又有高增益、低噪声的接收通道。一般地，ATR组件包含环形器、隔离器、限幅器、低噪声放大器(Low Noise Amplifier，LNA)、数字衰减器、数字移相器、收发开关、驱动及逻辑控制电路等。它是集高频、低频、大信号、小信号等为一体的复杂功能器件。另一方面，单个ATR 组件需要测试指标多(例如频率范围、发射功率、发射/接收增益、收发隔离度、衰减范围/精度以及相移范围/精度等)。这使得ATR组件的测试过程繁琐且需要处理的大量测试数据。

因此，如何在不同温度下批量地测试ATR组件对自动化测试系统提出了严格的要求。

实用新型内容

本申请的目的是解决现有技术的不足，提供一种双通道变频系统的相位增益全温度自动化测试装置及其使用方法，能够获得一次性测试出多个ATR组件在不同工作温度下的增益和相对相位的效果。其中，被测试的ATR组件是带有增加上下变频部分的双通道模拟TR组件。该双通道模拟TR组件具有用于外接频率源的高本振和低本振、两个用于发射和接收射频信号的A端口和B端口，以及用于中频信号输入和输出的中频端口组。

为了实现上述目的，本申请采用以下的技术方案。

首先，本申请提出一种双通道变频系统的相位增益全温度自动化测试装置，包括：频率源，用于输出指定频率的信号；变频器，用于上下变频信号的频率；中频放大模块，用于放大中频信号；大功率射频开关，分别可操作地联接待测试的所述双通道模拟TR组件的A端口和B端口到所述变频器；单刀多掷开关，分别可操作地联接待测试的所述双通道模拟TR组件的高本振和低本振到频率源；中频开关模块，分别可操作地联接待测试的所述双通道模拟TR组件的中频端口组中的各个中频端口到所述中频放大模块；以及网络分析仪，联接所述中频放大模块到所述变频器以形成检测通路，从而测试所述中频放大模块和所述变频器之间中频信号的增益相位。其中，所述双通道模拟TR组件设置在温度可控的温箱内部。测试时通过切换开关和上下变频，同时利用网络分析仪测试中频信号的增益相位，最终计算出各个双通道模拟TR组件的增益相位。

进一步地，在本申请的上述装置中，所述大功率射频开关和到所述变频器之间还设置有衰减器。

可替代地，在本申请的上述一个或多个装置中，所述变频器内还设置有负载电阻，以测试所述双通道模拟TR组件的A端口和B端口之间的隔离程度。

可替代地，在本申请的上述一个或多个装置中，所述中频放大模块是由一组中频放大器串接而成。