[发明专利]被动式安检设备及其光学装置有效

专利信息
申请号: 201911402652.7 申请日: 2019-12-30
公开(公告)号: CN113126174B 公开(公告)日: 2022-10-04
发明(设计)人: 赵自然;陈志强;李元景;游燕;马旭明 申请(专利权)人: 清华大学;同方威视技术股份有限公司
主分类号: G01V8/00 分类号: G01V8/00;G01V8/20;G01V8/22
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 周永红
地址: 100084*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 公开了一种被动式安检设备及其光学装置,所述光学装置适于将被检对象自发辐射的毫米波/太赫兹波以及反射背景环境的毫米波/太赫兹波反射并汇聚至所述被动式安检设备的探测器阵列,其中,所述光学装置包括栅条型反射板,所述栅条型反射板适于将被检对象自发辐射的毫米波/太赫兹波以及反射背景环境的毫米波/太赫兹波进行反射,所述栅条型反射板上的栅条的分布与所述探测器阵列中的探测器的接收天线的极化方向相匹配。该光学装置通过采用通过栅条型反射板,且栅条型反射板上的栅条的分布与探测器阵列的接收天线的极化方向相匹配,从而对反射板进行极化选择,这样可以提升系统的信噪比,从而提升系统的温度灵敏度,并提高图像质量与可疑物识别。
搜索关键词: 被动式 安检 设备 及其 光学 装置
【主权项】:
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