[发明专利]光模块老化测试装置在审
| 申请号： | 201911370001.4 | 申请日： | 2019-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN113055086A | 公开（公告）日： | 2021-06-29 |
| 发明（设计）人： | 秦强;汪红军;陈晨;吉昌;刘红卫;成锐;黄睿 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B10/073 | 分类号： | H04B10/073 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 姜春咸;冯建基 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本公开提供一种光模块老化测试装置，包括：加热模块，所述加热模块用于对待测试的光模块进行加热，所述光模块包括光发射子模块和光接收子模块；测试信号提供模块，所述测试信号提供模块用于向所述光发射子模块提供测试信号，以供所述光发射子模块转换为光信号，且所述光接收子模块能够将所述光信号转换为电信号；监控模块，所述监控模块用于根据处于工作状态的所述光模块的参数判断所述光模块是否合格。所述光模块老化测试装置可以对所述光模块进行在线老化测试，提高了测试结果的精确性。 | ||
| 搜索关键词： | 模块 老化 测试 装置 | ||
【主权项】：
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