[发明专利]一种可在冻融循环中测试平板材料电磁波反射率的装置和测量方法在审

专利信息
申请号: 201911352754.2 申请日: 2019-12-25
公开(公告)号: CN111060539A 公开(公告)日: 2020-04-24
发明(设计)人: 李庆华;刘鑫;徐世烺;沈亦农 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: G01N23/20 分类号: G01N23/20;G01R31/00;B01L7/00
代理公司: 浙江杭州金通专利事务所有限公司 33100 代理人: 刘晓春
地址: 310058 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明提供了一种在冻融循环中测试平板材料电磁波反射率的装置及冻融循环中测试平板材料电磁波反射率的方法。它采用冷凝液制冷及油浴达到双向调节温度功能,且可使测试平台温度能达到冰点以下,同时保证不受其他非温度原因干扰的条件下测量温度变化过程中的材料电磁波反射率。本发明简单易行,为探究材料在长时间温度循环变化如冻融循环时电磁波反射率变化规律奠定基础。
搜索关键词: 一种 循环 测试 平板 材料 电磁波 反射率 装置 测量方法
【主权项】:
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