[发明专利]一种高能离子注入机束流的调节装置和调节方法有效

专利信息
申请号: 201911334322.9 申请日: 2019-12-23
公开(公告)号: CN111146060B 公开(公告)日: 2022-04-01
发明(设计)人: 陈张发;曾绍海 申请(专利权)人: 上海集成电路研发中心有限公司
主分类号: H01J37/24 分类号: H01J37/24;H01J37/317
代理公司: 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 代理人: 吴世华;尹一凡
地址: 201210 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种高能离子注入机束流的调节装置和方法,该装置包括离子源单元、吸极、磁分析器、第一和第二法拉第单元、反馈调节单元、加速单元、聚焦单元、扫描单元、偏转单元、透镜组以及靶室;离子被离子源单元旁边的吸极吸出,第一法拉第单元用于测定离子束流大小参数,第二法拉第单元设置于加速单元之前,测定离子束流的形状和位置参数;反馈调节单元接收并根据第一法拉第单元测定的离子束流大小,以及第二法拉第单元测定的离子束流的形状和位置,通过调整离子源单元的内部参数、吸极的位置参数和/或磁分析器参数,控制进入加速单元前的离子束流的大小、形状和位置参数达到加速单元最佳菜单中的离子束流的大小、形状和位置参数的要求。
搜索关键词: 一种 高能 离子 注入 机束流 调节 装置 方法
【主权项】:
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