[发明专利]屏缺陷检测方法、装置、终端设备以及存储介质在审

专利信息
申请号: 201911333565.0 申请日: 2019-12-20
公开(公告)号: CN111080633A 公开(公告)日: 2020-04-28
发明(设计)人: 肖光曦 申请(专利权)人: OPPO(重庆)智能科技有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/90
代理公司: 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 代理人: 胡海国
地址: 401120 重庆*** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明公开了一种屏缺陷检测方法、装置、终端设备以及存储介质,其方法包括:获取被测终端屏幕显示的多张不同颜色的图片;利用AI算法模型对所述多张不同颜色的图片进行检测,所述AI算法模型预先通过深度学习算法训练而得;对图片检测得到的结果进行评估,得到所述被测终端的屏缺陷检测结果。本发明通过AI算法模型检测终端设备的屏缺陷,极大提高了终端产品屏缺陷的检测准确率和检测效率,此外,本方案还可以实现AI算法模型的快速迭代,训练出新的算法模型,有效地截出不良缺陷,尤其可以有效截出传统算法截不出来的缺陷屏,同时可以不断提升屏的不良缺陷识别率,提升产品品质。
搜索关键词: 缺陷 检测 方法 装置 终端设备 以及 存储 介质
【主权项】:
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