[发明专利]基于标志点的偏折测量系统一体化几何标定方法有效

专利信息
申请号: 201911287998.7 申请日: 2019-12-15
公开(公告)号: CN110966935B 公开(公告)日: 2021-06-04
发明(设计)人: 张祥朝;牛振岐;朱熠帆;叶俊强;徐敏 申请(专利权)人: 复旦大学
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/30
代理公司: 上海正旦专利代理有限公司 31200 代理人: 陆飞;陆尤
地址: 200433 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明属于精密测量技术领域,具体为一种基于标志点的偏折测量系统一体化几何标定方法。本发明方法包括:引入一个带标志点的反射镜辅助标定,以实现原位测量需求,克服离轴偏折测量系统中相机无法直接标定屏幕位姿的问题;在中间区域设置参考平面反射镜,其周围区域均匀分布两圈特征圆斑;将转台标定工作与屏幕‑相机标定工作融合,利用转台旋转标定板以提供多组姿态方程,用于对测量系统全局优化,并消除平面镜位姿不确定导致的屏幕位姿的歧义问题,实现屏幕‑相机位姿的精准标定。本发明可有效估计测量系统的各部件的位姿,包括相机、屏幕和转台,对实现高精度偏折测量技术具有重要意义。
搜索关键词: 基于 标志 测量 系统 一体化 几何 标定 方法
【主权项】:
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