[发明专利]一种针对FPGA PLL IP核的测试系统及方法有效

专利信息
申请号: 201911244497.0 申请日: 2019-12-06
公开(公告)号: CN111123083B 公开(公告)日: 2022-04-29
发明(设计)人: 周芝梅;万勇;冯晨;徐浩;韩圣亚;黄振;王飞 申请(专利权)人: 国家电网有限公司;国网山东省电力公司信息通信公司;北京智芯微电子科技有限公司;国网思极紫光(青岛)微电子科技有限公司
主分类号: G01R31/3177 分类号: G01R31/3177;G01R31/3185
代理公司: 北京安博达知识产权代理有限公司 11271 代理人: 徐国文
地址: 100031 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种针对FPGA PLL IP核的测试系统和方法,包括:待测电路板以及与待测电路板分别连接的信号源和PC机;PC机还与信号源连接;待测FPGA芯片安装于待测电路板上;PC机用于基于预先设定的测试用例触发信号源生成时钟信号;还用于基于测试用例生成测试位流码,并将测试位流码通过待测电路板下载到待测FPGA芯片中;待测电路板用于将待测FPGA芯片基于测试位流码和时钟信号进行运算生成的输出信号传递给PC机;PC机还用于对待测FPGA芯片的输出信号进行分析,完成测试。本发明实现了FPGA芯片中PLL IP核的自动测试,该测试平台可以对没有内建自测试电路的PLL IP核做全面的测试,也可以对有内建自测试电路的PLL IP核做补充测试。
搜索关键词: 一种 针对 fpga pll ip 测试 系统 方法
【主权项】:
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