[发明专利]一种测试方法、装置及测试系统有效

专利信息
申请号: 201911165783.8 申请日: 2019-11-25
公开(公告)号: CN110958079B 公开(公告)日: 2022-07-01
发明(设计)人: 徐斌 申请(专利权)人: 新华三技术有限公司
主分类号: H04L1/00 分类号: H04L1/00;H04L43/50
代理公司: 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 代理人: 郭思晨
地址: 310052 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 本申请提供一种测试方法、装置及测试系统,包括:逻辑芯片接收测试服务器发送的用于测试被测设备DUT控制平面的控制面测试报文,并将控制面测试报文发送给所述DUT,以及向所述DUT发送用于测试DUT数据平面的数据面测试报文;在接收到DUT返回的报文时,对DUT返回的报文进行识别处理;若识别出所述DUT返回的报文为控制面测试报文的响应报文,则将DUT返回的报文发送至所述测试服务器,由测试服务器对所述DUT返回的报文进行处理;若识别出DUT返回的报文为所述DUT转发的所述数据面测试报文,则在本地处理DUT返回的报文。使用本申请提供的方法可以实现大规模DUT的控制平面的测试。
搜索关键词: 一种 测试 方法 装置 系统
【主权项】:
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