[发明专利]光电效应截止电压的测量方法在审
| 申请号： | 201911058843.6 | 申请日： | 2019-11-01 |
| 公开（公告）号： | CN110767055A | 公开（公告）日： | 2020-02-07 |
| 发明（设计）人： | 胡再国;李娟;雍志华 | 申请（专利权）人： | 四川大学 |
| 主分类号： | G09B23/22 | 分类号： | G09B23/22 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610065 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 光电效应截止电压的测量方法涉及物理参数的测量，技术方案是：光源发出的光线经过透光孔后、从进光孔照射产生光电效应的金属表面，光电效应金属表面发射电子；在光电效应金属表面的前方有一个圆圈金属电极，在圆圈金属电极与光照射的光电效应金属表面之间形成电流；将电子源金属连接到电容的一端、将光电子接受部件连接到电容的另一端，光电效应产生的电流对电容充电，电容的电压使电子源金属和光电子接受部件之间形成反向电场阻碍光电子进一步向光电子接受部件运动，当电容两端的电压不再升高的时候，此时电容两端的电压就是光源波长对应光电效应的截止电压。测试电路简单；测量原理清晰：直接测量电压；测量方案可行。 | ||
| 搜索关键词： | 光电效应 金属表面 光电子 电容 电容两端 截止电压 金属电极 测量 圆圈 电压使电子 部件连接 部件运动 测量原理 测试电路 电容充电 发射电子 反向电场 光源波长 金属连接 物理参数 直接测量 电子源 光照射 进光孔 透光孔 源金属 光源 照射 升高 清晰 阻碍 | ||
【主权项】：
1.光电效应截止电压的测量方法，光源（1）发出的光线（5）经过透光孔（2）后、从进光孔（4）照射产生光电效应的金属表面，其特征是：光电效应金属表面发射电子；在光电效应金属表面的前方有一个圆圈金属电极，在圆圈金属电极与光照射的光电效应金属表面之间形成电流；为表述方便，产生光电效应的金属称为电子源金属（6）、即产生光电子的金属称为电子源金属（6），圆圈金属电极简称为光电子接受部件（7），将电子源金属（6）连接到电容（8）的一端、将光电子接受部件（7）连接到电容（8）的另一端，光电效应产生的电流对电容（8）充电，电容（8）的电压使电子源金属（6）和光电子接受部件（7）之间形成反向电场阻碍光电子进一步向光电子接受部件（7）运动，当电容（8）两端的电压不再升高的时候，此时电容（8）两端的电压就是光源（1）波长对应光电效应的截止电压。/n
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