[发明专利]光电效应截止电压的测量方法

权利要求书

1.光电效应截止电压的测量方法，光源（1）发出的光线（5）经过透光孔（2）后、从进光孔（4）照射产生光电效应的金属表面，其特征是：光电效应金属表面发射电子；在光电效应金属表面的前方有一个圆圈金属电极，在圆圈金属电极与光照射的光电效应金属表面之间形成电流；为表述方便，产生光电效应的金属称为电子源金属（6）、即产生光电子的金属称为电子源金属（6），圆圈金属电极简称为光电子接受部件（7），将电子源金属（6）连接到电容（8）的一端、将光电子接受部件（7）连接到电容（8）的另一端，光电效应产生的电流对电容（8）充电，电容（8）的电压使电子源金属（6）和光电子接受部件（7）之间形成反向电场阻碍光电子进一步向光电子接受部件（7）运动，当电容（8）两端的电压不再升高的时候，此时电容（8）两端的电压就是光源（1）波长对应光电效应的截止电压。

2.根据权利要求1所述的光电效应截止电压的测量方法，其特征是：光源（1）产生的光电流在10^-8-10^-9A。

3.根据权利要求1所述的光电效应截止电压的测量方法，其特征是：采用数字万用表的直流电压档测量电容（8）两端的电压，数字万用表的直流电压档的内阻在10⁷-10⁸欧姆。

4.根据权利要求1所述的光电效应截止电压的测量方法，其特征是：电容（8）的容量为0.1*10^-6F -470*10^-6F。

5.根据权利要求1所述的光电效应截止电压的测量方法，其特征是：光源（1）产生的光电流在10^-9A；采用数字万用表的2V直流电压档每隔10分钟测量一次电容（8）两端的电压、每次测量时间在1秒之内，数字万用表的2V直流电压档的内阻在10⁷欧姆；电容（8）的容量为10*10^-6F。

6.根据权利要求1所述的光电效应截止电压的测量方法，其特征是：光源（1）产生的光电流在10^-9A；采用数字万用表的2V直流电压档每隔10分钟测量一次电容（8）两端的电压、每次测量时间在1-2秒，数字万用表的2V直流电压档的内阻在10⁸欧姆；电容（8）的容量为1*10^-6F。

7.根据权利要求1所述的光电效应截止电压的测量方法，其特征是：光源（1）产生的光电流在10^-9A；采用数字直流电压档测量电容（8）两端的电压，数字直流电压档量程为10V，数字直流电压档的内阻在10¹⁰欧姆；电容（8）的容量为0.1*10^-6F，电容的击穿电压大于10V。