[发明专利]一种具有强抗干扰能力的频域F-P型测速系统及其测速方法在审
| 申请号： | 201911043260.6 | 申请日： | 2019-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN110617890A | 公开（公告）日： | 2019-12-27 |
| 发明（设计）人： | 钟舜聪;林杰文;张秋坤;钟剑锋;陈伟强;周宁 | 申请（专利权）人： | 福州大学 |
| 主分类号： | G01J7/00 | 分类号： | G01J7/00 |
| 代理公司： | 35100 福州元创专利商标代理有限公司 | 代理人： | 钱莉;蔡学俊 |
| 地址： | 350108 福建省福州市*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种具有强抗干扰能力的频域F‑P型测速系统及其测速方法，该装置包括光源、 | ||
| 搜索关键词： | 光谱仪 测速 光纤准直器 抗干扰能力 光纤末端 参考光 探测光 线阵 光源 单模光纤耦合器 采集 样品表面反射 光纤偶合器 光纤耦合器 空间分辨率 测速系统 端面反射 光学相干 纳米量级 频谱校正 信号传输 测速仪 传统的 上位机 相干 硅镜 频域 反射 传播 干涉 分析 | ||
【主权项】：
1.一种具有强抗干扰能力的频域F-P型测速系统，提供一样品，其特征在于：包括光源、1×2单模光纤耦合器、反射硅镜、光纤准直器、线阵光谱仪和上位机；/n所述光源发射出的光源进入所述1×2单模光纤耦合器中，光源传播至光纤末端；光源传播至光纤末端一部分被所述反射硅镜反射而回得到参考光，另一部分被所述样品反射而回得到探测光；所述参考光与探测光在光纤耦合器处相遇并发生干涉；所述相干的参考光与探测光经光纤准直器准直后，被所述线阵光谱仪所采集；所述线性光谱仪将采集到的信号传输到所述上位机上进行测速分析。/n
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