[发明专利]一种利用吸收式μ介子放射线照相法检测和定位结构的方法

摘要

本发明公开了一种利用吸收式μ介子放射线照相法检测和定位结构的方法，涉及探测技术领域，该方法中包括用于探测用的处理器和探测器镜头，为检测和跟踪通过预定体积的μ介子的装置，所述方法包括以下步骤：μ介子的第一组轨迹的获取，μ介子的第二组轨迹的获取，识别映射区域的边界以获得信号区域以及计算通过信号区域的结构的大小和形状，本发明的方法用于被包裹在大量其他物质中的物体的检测、定位以及几何重建，尤其是隐藏的腔体类物质或重物，同时还具有更高的精度。

主权项

1.一种利用吸收式μ介子放射线照相法检测和定位结构的方法，其特征在于，该方法中包括用于探测用的处理器和探测器镜头，为检测和跟踪通过预定体积的μ介子的装置，所述方法包括以下步骤：/n(1)将探测器镜头放在中间的预定位置，使用探测器镜头获取在预定时间间隔内通过所述预定体积的μ介子，由处理器对检测到的μ介子的运动轨迹进行重建，以获得检测到的μ介子的第一组轨迹；/n(2)生成假设预定体积内不存在相关结构的模拟情况，其中处理器模拟在所述预定时间间隔中通过所述预定体积的μ介子，在假设将探测器镜头放置在所述预定位置的情况下，获得模拟情况下μ介子运动轨迹的重建，以获得模拟的μ介子的第二组轨迹；/n(3)通过处理器将第一组轨迹和第二组轨迹表示在预定数量的、每个与探测器镜头相距预定距离的平面上，确定第一组轨迹和第二组轨迹与所述平面的交点，分别在每个所述平面上表示μ介子真实分布情况和模拟分布情况，从每个表面的真实分布情况中减去模拟分布情况，反之亦然，以提供差值的映射，该差值表示在距探测器镜头的每个预定距离处真实分布情况与模拟分布情况的偏差，在考虑所有所述平面的情况下识别所述差值的映射区域，其中所述差值与预定参考值不同，并识别映射区域的边界以获得信号区域；/n(4)确定函数λ(x)，其描述相对于探测器镜头的中心对准信号区域的角度幅度，其中x是后投影表面和探测器镜头的中心之间的距离，通过确定函数λ(x)的相对最小值来识别结构与探测器镜头的中心之间的距离d，在所述距离d处生成所述信号区域的重建图像，计算通过信号区域的结构的大小和形状。/n