[发明专利]基于广角镜头和图像畸变校正的温度变形测量系统及方法有效
申请号: | 201910825008.4 | 申请日: | 2019-09-02 |
公开(公告)号: | CN110514392B | 公开(公告)日: | 2020-11-17 |
发明(设计)人: | 冯雪;张金松;岳孟坤;唐云龙 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G01M9/06 | 分类号: | G01M9/06;G01B11/16 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 10008*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本公开涉及一种基于广角镜头和图像畸变校正的温度变形测量系统及方法,所述系统包括开设有耐高温观察窗口的密闭实验舱,密闭实验舱内固定有被测试件;照明光源,用于照射所述被测试件表面;广角相机,用于获取被测试件表面的图像;加热装置,用于对被测试件进行加热;温度测量装置,用于测量被测试件表面的单点温度;控制终端,用于根据畸变校正后的被测试件表面的图像得到被测试件表面的变形场,根据被测试件表面的单点温度及畸变校正后的被测试件表面的图像得到被测试件表面的温度场。通过广角相机能够很好的扩大图像采集范围,获取更多有效的实验数据;通过畸变校正可以大大降低图像畸变误差,得到更加精准的变形场和温度场信息。 | ||
搜索关键词: | 基于 广角镜头 图像 畸变 校正 温度 变形 测量 系统 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于广角镜头和图像畸变校正的温度变形测量系统,其特征在于,包括:/n开设有耐高温观察窗口的密闭实验舱,所述密闭实验舱内固定有被测试件;/n设置在所述密闭实验舱外的照明光源,用于照射所述被测试件表面;/n设置在所述密闭实验舱外的广角相机,用于获取所述被测试件表面的图像;/n设置在所述密闭实验舱内的加热装置,用于对所述被测试件进行加热;/n设置在所述密闭实验舱外的温度测量装置,用于测量所述被测试件表面的单点温度;/n控制终端,用于根据畸变校正后的所述被测试件表面的图像得到所述被测试件表面的变形场,根据所述被测试件表面的单点温度及畸变校正后的所述被测试件表面的图像得到所述被测试件表面的温度场。/n
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