[发明专利]修复缺陷像素所造成暗点的方法及系统在审

专利信息
申请号: 201910609992.0 申请日: 2019-07-08
公开(公告)号: CN110428771A 公开(公告)日: 2019-11-08
发明(设计)人: 黄泰钧;梁鹏飞 申请(专利权)人: 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司
主分类号: G09G3/3208 分类号: G09G3/3208
代理公司: 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 代理人: 黄威
地址: 518132 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开一种修复缺陷像素所造成暗点的方法,包括侦测正常像素的亮度、侦测缺陷像素的亮度、侦测缺陷像素的坐标,并将缺陷像素的坐标反馈给控制电路、修复缺陷像素以及将经修复的缺陷像素显示在显示面板上。正常像素的亮度作为预设亮度,且正常像素提供额外亮度弥补缺陷像素的亮度,以及缺陷像素的亮度低于正常像素的亮度。另外,本发明还提供一种修复缺陷像素所造成暗点的系统。
搜索关键词: 缺陷像素 正常像素 修复 暗点 侦测 控制电路 显示面板 预设 反馈
【主权项】:
1.一种修复缺陷像素所造成暗点的方法,其特征在于,包括:侦测正常像素的亮度,其中所述正常像素的亮度作为预设亮度;侦测所述缺陷像素的亮度,其中所述缺陷像素的亮度低于所述正常像素的亮度;侦测所述缺陷像素的坐标,并将所述缺陷像素的坐标反馈给控制电路;以及修复所述缺陷像素所造成的暗点,其中所述正常像素提供额外亮度弥补所述缺陷像素的亮度。
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