[发明专利]基于精密激光测距仪的拱顶沉降测量装置及其测量方法在审
| 申请号： | 201910587685.7 | 申请日： | 2019-07-02 |
| 公开（公告）号： | CN110360983A | 公开（公告）日： | 2019-10-22 |
| 发明（设计）人： | 李双平;严建国;郑敏;刘祖强;王峥;严凤;吴瑕 | 申请（专利权）人： | 长江空间信息技术工程有限公司（武汉）;长江勘测规划设计研究有限责任公司 |
| 主分类号： | G01C5/00 | 分类号： | G01C5/00;G01C15/00;G01B11/02 |
| 代理公司： | 武汉宇晨专利事务所 42001 | 代理人： | 王敏锋 |
| 地址： | 430010 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于精密激光测距仪的拱顶沉降测量装置。它包括对中基盘、调平基座、定位盘和高精度测距仪；所述调平基座连接固定于所述对中基盘上；所述调平基座包括位于上端的水平结构，位于所述水平结构上的调平结构，和位于所述水平结构上的调平显示结构；水平结构中部设有第一通孔；所述定位盘位于所述第一通孔内；所述定位盘中部设有接口，所述高精度测距仪位于所述接口内。本发明具有高效率、高精度、低成本的优点。本发明还公开了所述基于精密激光测距仪的拱顶沉降测量装置的测量方法。 | ||
| 搜索关键词： | 水平结构 拱顶沉降测量 调平基座 精密激光 测距仪 定位盘 高精度测距仪 基盘 通孔 测量 调平结构 连接固定 显示结构 上端 低成本 高效率 调平 | ||
【主权项】：
1.基于精密激光测距仪的拱顶沉降测量装置，其特征在于：包括对中基盘(1)、调平基座(2)、定位盘(3)和高精度测距仪(4)；所述调平基座(2)连接固定于所述对中基盘(1)上；所述调平基座(2)包括位于上端的水平结构(2.1)，位于所述水平结构(2.1)上的调平结构(2.2)，和位于所述水平结构(2.1)上的调平显示(2.3)结构；水平结构(2.1)中部设有第一通孔(2.11)；所述定位盘(3)位于所述第一通孔(2.11)内；所述定位盘(3)中部设有接口(3.1)，所述高精度测距仪(4)位于所述接口(3.1)内。
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