[发明专利]用于检测ATP7B基因位点突变的引物组及其应用和应用其的产品

摘要

本发明涉及生命科学和生物技术领域，具体而言，提供了一组用于检测ATP7B基因位点突变的引物组及其应用和应用其的产品。本发明提供用于检测ATP7B基因位点突变的引物组，包括16组检测物，每组检测物包括一组引物对和一组探针对。该引物组针对中国人群中主要突变热点进行设计，可以对ATP7B基因位点突变实现特异性检测，准确性高，检测结果覆盖WD患者绝大部分的致病突变。试剂和试剂盒含有上述引物组，因此可以快速、准确对ATP7B基因16种位点突变进行检测。

主权项

1.一组用于检测ATP7B基因位点突变的引物组，其特征在于，所述引物组包括如下16组检测物，每组检测物包括一组引物对和一组探针对；第一检测物中包括：第一引物对：ATP7B‑1F(SEQ ID NO.1)和ATP7B‑1R(SEQ ID NO.2)；第一探针对：ATP7B‑1P‑wt(SEQ ID NO.3)和ATP7B‑1P‑mut(SEQ ID NO.4)；第二检测物中包括：第二引物对：ATP7B‑2F(SEQ ID NO.5)和ATP7B‑2R(SEQ ID NO.6)；第二探针对：ATP7B‑2P‑wt(SEQ ID NO.7)和ATP7B‑2P‑mut(SEQ ID NO.8)；第三检测物中包括：第三引物对：ATP7B‑3F(SEQ ID NO.9)和ATP7B‑3R(SEQ ID NO.10)；第三探针对：ATP7B‑3P‑wt(SEQ ID NO.11)和ATP7B‑3P‑mut(SEQ ID NO.12)；第四检测物中包括：第四引物对：ATP7B‑4F(SEQ ID NO.13)和ATP7B‑4R(SEQ ID NO.14)；第四探针对：ATP7B‑4P‑wt(SEQ ID NO.15)和ATP7B‑4P‑mut(SEQ ID NO.16)；第五检测物中包括：第五引物对：ATP7B‑5F(SEQ ID NO.17)和ATP7B‑5R(SEQ ID NO.18)；第五探针对：ATP7B‑5P‑wt(SEQ ID NO.19)和ATP7B‑5P‑mut(SEQ ID NO.20)；第六检测物中包括：第六引物对：ATP7B‑6F(SEQ ID NO.21)和ATP7B‑6R(SEQ ID NO.22)；第六探针对：ATP7B‑6P‑wt(SEQ ID NO.23)和ATP7B‑6P‑mut(SEQ ID NO.24)；第七检测物中包括：第七引物对：ATP7B‑7F(SEQ ID NO.25)和ATP7B‑7R(SEQ ID NO.26)；第七探针对：ATP7B‑7P‑wt(SEQ ID NO.27)和ATP7B‑7P‑mut(SEQ ID NO.28)；第八检测物中包括：第八引物对：ATP7B‑8F(SEQ ID NO.29)和ATP7B‑8R(SEQ ID NO.30)；第八探针对：ATP7B‑8P‑wt(SEQ ID NO.31)和ATP7B‑8P‑mut(SEQ ID NO.32)；第九检测物中包括：第九引物对：ATP7B‑9F(SEQ ID NO.33)和ATP7B‑9R(SEQ ID NO.34)；第九探针对：ATP7B‑9P‑wt(SEQ ID NO.35)和ATP7B‑9P‑mut(SEQ ID NO.36)；第十检测物中包括：第十引物对：ATP7B‑10F(SEQ ID NO.37)和ATP7B‑10R(SEQ ID NO.38)；第十探针对：ATP7B‑10P‑wt(SEQ ID NO.39)和ATP7B‑10P‑mut(SEQ ID NO.40)；第十一检测物中包括：第十一引物对：ATP7B‑10F(SEQ ID NO.41)和ATP7B‑10R(SEQ ID NO.42)；第十一探针对：ATP7B‑10P‑wt(SEQ ID NO.43)和ATP7B‑10P‑mut(SEQ ID NO.44)；第十二检测物中包括：第十二引物对：ATP7B‑12F(SEQ ID NO.45)和ATP7B‑12R(SEQ ID NO.46)；第十二探针对：ATP7B‑12P‑wt(SEQ ID NO.47)和ATP7B‑12P‑mut(SEQ ID NO.48)；第十三检测物中包括：第十三引物对：ATP7B‑13F(SEQ ID NO.49)和ATP7B‑13R(SEQ ID NO.50)；第十三探针对：ATP7B‑13P‑wt(SEQ ID NO.51)和ATP7B‑13P‑mut(SEQ ID NO.52)；第十四检测物中包括：第十四引物对：ATP7B‑14F(SEQ ID NO.53)和ATP7B‑14R(SEQ ID NO.54)；第十四探针对：ATP7B‑14P‑wt(SEQ ID NO.55)和ATP7B‑14P‑mut(SEQ ID NO.56)；第十五检测物中包括：第十五引物对：ATP7B‑14F(SEQ ID NO.57)和ATP7B‑14R(SEQ ID NO.58)；第十五探针对：ATP7B‑14P‑wt(SEQ ID NO.59)和ATP7B‑14P‑mut(SEQ ID NO.60)；第十六检测物中包括：第十六引物对：ATP7B‑16F(SEQ ID NO.61)和ATP7B‑16R(SEQ ID NO.62)；第十六探针对：ATP7B‑16P‑wt(SEQ ID NO.63)和ATP7B‑16P‑mut(SEQ ID NO.64)；其中，每组检测物的探针对中的两个探针均含有荧光基团且两个探针的荧光基团互不相同；每组检测物的探针对中的两个探针均含有淬灭基团。