[发明专利]一种光路中自带可通断红光的插回损检测装置

摘要

本发明公开了一种光路中自带可通断红光的插回损检测装置，内部设置有第一半导体激光器、第二半导体激光器、第一光分路器、第二光分路器、第一光功率计、第二光功率计、650nm红光源及复用器，第一半导体激光器及第二半导体激光器分别与复用器相连通，复用器与第一光分路器相连，同时第一光分路器还与650nm红光源相连接，第二光分路器分别与第一光功率计及被检测器件相连，该发明实现了将红光与插回损检测一体化，实现红光可通断，在可利用红光的同时可完成插回损检测，只需将被测产品与仪表接口进行一次连接，即可完成红光检测和插回损检测应用，操作步骤简单，效率大幅提高，很大程度地降低了检测人员的劳动强度，方便插回损检测。

主权项

1.一种光路中自带可通断红光的插回损检测装置，其特征在于：包括壳体(1)、显示仪(2)、光源输出接头(3)、按钮(4)、功率探测接头(5)、RS232接口(6)、脚踏开关接口(7)、USB接口(8)、电源接口(9)、开关(10)、第一半导体激光器(11)、第二半导体激光器(12)、第一光分路器(13)、第二光分路器(14)、第一光功率计(15)、第二光功率计(16)、650nm红光源(17)、复用器(18)及被检测器件(19)，所述壳体(1)正面设置有显示仪(2)、光源输出接头(3)、若干按钮(4)及功率探测接头(5)，所述壳体(1)背面设置有RS232接口(6)、脚踏开关接口(7)、USB接口(8)、电源接口(9)及开关(10)，所述壳体(1)内部设置有第一半导体激光器(11)、第二半导体激光器(12)、第一光分路器(13)、第二光分路器(14)、第一光功率计(15)、第二光功率计(16)、650nm红光源(17)及复用器(18)，所述第一半导体激光器(11)及第二半导体激光器(12)分别与复用器(18)相连通，所述复用器(18)还与第一光分路器(13)相连，所述第一光分路器(13)与650nm红光源(17)相连的同时还与第二光分路器(14)相连，所述第二光分路器(14)还分别与第一光功率计(15)及被检测器件(19)一端相连，所述被检测器件(19)另一端与第二光功率计(16)相连通，所述壳体(1)内部还设置有MCU。