[发明专利]一种多光源组件光参数测试方法在审
| 申请号： | 201910375980.6 | 申请日： | 2019-05-07 |
| 公开（公告）号： | CN110132546A | 公开（公告）日： | 2019-08-16 |
| 发明（设计）人： | 刘振辉;王业文;王胜利 | 申请（专利权）人： | 深圳市矽电半导体设备有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518172 广东省深圳市龙岗区龙城街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种多光源组件光参数测试方法。S1：用检光装置分别采集多个光源的光参数；S2：满足光参数设定值标注为1，不满足光参数设定值标注为0，多个光源的光参数通过1或0显示于显示屏；技术人员能够通过显示的1或0快速判别该多光源组件是否满足要求，以及其他设备能够根据1或0值快速处理数据，从而提升技术人员对多光源组件光参数状况的了解，如该多光源组件的单个光源光参数合格率。 | ||
| 搜索关键词： | 光参数 多光源 光源 标注 测试 单个光源 检光装置 快速处理 显示屏 合格率 采集 | ||
【主权项】：
1.一种多光源组件光参数测试方法，其特征在于：S1：用检光装置分别采集多个光源的光参数；S2：满足光参数设定值标注为1，不满足光参数设定值标注为0，多个光源的光参数通过1或0显示于显示屏。
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