[发明专利]颗粒检测装置、方法及FPGA在审
| 申请号： | 201910361739.8 | 申请日： | 2019-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN110006795A | 公开（公告）日： | 2019-07-12 |
| 发明（设计）人： | 仝卫国;刘震;朱赓宏;庞雪纯;李奕颖 | 申请（专利权）人： | 华北电力大学（保定） |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 石家庄国为知识产权事务所 13120 | 代理人： | 李荣文 |
| 地址： | 071000 河北*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明适用涉及颗粒检测技术领域，公开了一种颗粒检测装置、方法及FPGA，包括箱体、用于生成检测用光线的光源、用于对所述检测用光线进行调整的光路调整单元、用于放置包含颗粒的待检测样品的样品放置单元、用于放置不包含颗粒的对比样品的对比单元、用于采集衍射图像的图像采集单元和用于对衍射图像进行分析得到颗粒检测结果的分析处理单元；所述光源、光路调整单元、样品放置单元、对比单元和图像采集单元设置在所述箱体中；本发明适用于石灰石浆液颗粒细度的检测，可以提高测量精度。 | ||
| 搜索关键词： | 光路调整单元 颗粒检测装置 图像采集单元 样品放置单元 对比单元 颗粒检测 衍射图像 光源 检测 分析处理单元 待检测样品 石灰石浆液 对比样品 颗粒细度 测量 采集 分析 | ||
【主权项】：
1.一种颗粒检测装置，其特征在于，包括：箱体、光源、光路调整单元、样品放置单元、图像采集单元、对比单元和分析处理单元；所述光源、光路调整单元、样品放置单元、对比单元和图像采集单元设置在所述箱体中；所述光源用于生成检测用光线，并射向所述光路调整单元；所述光路调整单元用于对所述检测用光线进行光路调整，其中经光路调整后的检测用光线射向所述样品放置单元和所述对比单元；所述样品放置单元用于放置包含颗粒的待检测样品；所述对比单元用于放置不包含颗粒的对比样品；所述图像采集单元采集所述检测用光线照射在所述样品放置单元中放置的包含颗粒的待检测样品时所产生的第一衍射图像，以及采集所述检测用光线照射在所述对比单元中放置的不包含颗粒的对比样品时所产生的第二衍射图像；所述分析处理单元用于对所述第一衍射图像和第二衍射图像进行分析得到颗粒检测结果。
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