[发明专利]颗粒检测装置、方法及FPGA

说明书

本发明适用涉及颗粒检测技术领域，公开了一种颗粒检测装置、方法及FPGA，包括箱体、用于生成检测用光线的光源、用于对所述检测用光线进行调整的光路调整单元、用于放置包含颗粒的待检测样品的样品放置单元、用于放置不包含颗粒的对比样品的对比单元、用于采集衍射图像的图像采集单元和用于对衍射图像进行分析得到颗粒检测结果的分析处理单元；所述光源、光路调整单元、样品放置单元、对比单元和图像采集单元设置在所述箱体中；本发明适用于石灰石浆液颗粒细度的检测，可以提高测量精度。

技术领域

本发明属于颗粒检测技术领域，尤其涉及一种颗粒检测装置、方法及FPGA。

背景技术

随着科学技术的发展和人民对生活品质追求的提高，工厂中对石灰石浆液的品质也有了更高的要求，针对石灰石浆液颗粒细度的检测方法相继出现。

目前对于石灰石浆液颗粒细度的检测方法主要通过超声波测量法、电测量法、直接在线测量法和激光测量法，使用这些检测方法均需要专业人员对样品进行检测，采集数据，再借用计算机进行数据分析得出结果。然而传统的颗粒测量方法对样品的测量和数据采集过程都不够准确，检测精度不足。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供了一种颗粒检测装置、方法及FPGA，以解决现有技术中检测精度不足的问题。

本发明实施例的第一方面提供了一种颗粒检测装置，包括：

箱体、光源、光路调整单元、样品放置单元、对比单元和图像采集单元，所述光源、光路调整单元、样品放置单元、对比单元、图像采集单元和分析处理单元；所述光源、光路调整单元、样品放置单元、对比单元和图像采集单元设置在所述箱体中。

所述光源用于生成检测用光线，并射向所述光路调整单元；

所述光路调整单元用于对所述检测用光线进行光路调整，其中经光路调整后的检测用光线射向所述样品放置单元和所述对比单元；

所述样品放置单元用于放置包含颗粒的待检测样品；

所述对比单元用于放置不包含颗粒的对比样品；

所述图像采集单元采集所述检测用光线照射在所述样品放置单元中放置的包含颗粒的待检测样品时所产生的第一衍射图像，以及采集所述检测用光线照射在所述对比单元中放置的不包含颗粒的对比样品时所产生的第二衍射图像；

所述分析处理单元用于对所述第一衍射图像和第二衍射图像进行分析得到颗粒检测结果。

可选的，所述光路调整单元包括第一偏振分光棱镜、第二偏振分光棱镜、第一扩束透镜、第一准直透镜、第二扩束透镜和第二准直透镜；

所述第一偏振分光棱镜和第二偏振分光棱镜，用于将所述检测用光线分为第一路检测用光线和第二路检测用光线；

所述第一路检测光线依次通过所述第一扩束透镜和第一准直透镜进行光路调整后射向所述样品放置单元；

所述第二路检测用光线依次通过第二扩束透镜和第二准直透镜进行光路调整后射向所述对比单元。

可选的，所述分析处理单元用于：

根据所述第一衍射图像的像素值和第二衍射图像的像素值，得到衍射降噪灰度图；

计算所述衍射降噪灰度图的光能矩阵和光能系数矩阵；

根据所述衍射降噪灰度图的光能矩阵和光能系数矩阵，通过P-T反演算法计算得出颗粒粒径分布。

可选的，所述根据所述第一衍射图像的像素值和第二衍射图像的像素值，得到衍射降噪灰度图，包括：

对所述第一衍射图像进行灰度处理得到第一灰度图，对第二衍射图像进行灰度处理得到第二灰度图；