[发明专利]一种直线位移测量装置有效

专利信息
申请号: 201910349564.9 申请日: 2019-04-28
公开(公告)号: CN109974596B 公开(公告)日: 2021-11-26
发明(设计)人: 王子忠;王晗;张平 申请(专利权)人: 广东工业大学
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 罗满
地址: 510060 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种直线位移测量装置,包括光产生部、成像部和数据处理部,光产生部用于向成像部发出线结构光,成像部用于接收线结构光而对线结构光成像,数据处理部用于根据在光产生部和成像部之间发生位移前后成像部所成的线结构光图像计算出光产生部和成像部之间的位移量。本发明直线位移测量装置通过对线结构光成像,根据发生位移前后的线结构图像变化而测量位移,能保证测量精度,与现有技术相比能够避免光栅尺线纹刻蚀工艺复杂、生产条件苛刻、制作成本比较高的缺点,也避免了磁栅尺对现场磁信号抗干扰能力比较差的缺点。
搜索关键词: 一种 直线 位移 测量 装置
【主权项】:
1.一种直线位移测量装置,其特征在于,包括光产生部、成像部和数据处理部,所述光产生部用于向所述成像部发出线结构光,所述成像部用于接收线结构光而对线结构光成像,所述数据处理部用于根据在所述光产生部和所述成像部之间发生位移前后所述成像部所成的线结构光图像计算出所述光产生部和所述成像部之间的位移量。
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