[发明专利]一种量子点空间示踪测温系统及方法有效

专利信息
申请号: 201910349429.4 申请日: 2019-04-28
公开(公告)号: CN110081996B 公开(公告)日: 2020-10-27
发明(设计)人: 李本强;朱绍冲;江新兵;杨欢;于伟 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: G01K11/00 分类号: G01K11/00;G01N21/64
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 高博
地址: 710049 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种量子点空间示踪测温系统及方法,在暗场环境中,使用激光器激发标记在细胞样品中的量子点探针,通过物镜显微放大后再经半反半透镜将光路一分为二,一路采用光学相位调制法获取分散在样品细胞内量子点的三维空间位置信息,由EMCCD在图像模式下一定频率的采集不同时刻下的图像数据,实现量子点三维空间定位和示踪;第二路采用光谱仪获取量子点的荧光强度与波长信息,由EMCCD在光谱模式下同步地采集不同时刻下的光谱数据,并根据量子点的光热特性得到量子点的实时温度,两个EMCCD分别将采集的数据发送给计算机,由计算机将不同时刻下量子点的位置与温度匹配,完成对量子点空间示踪测温。实现对细胞内量子点高精度的三维空间示踪及同步测温。
搜索关键词: 一种 量子 空间 测温 系统 方法
【主权项】:
1.一种量子点空间示踪测温方法,其特征在于,在暗场环境中,使用激光器激发标记在细胞样品中的量子点探针,通过物镜显微放大后再经半反半透镜将光路一分为二,一路采用光学相位调制法获取分散在样品细胞内量子点的空间位置信息,由一个EMCCD在图像模式下一定频率的采集不同时刻下的图像数据,实现量子点三维空间定位和示踪;第二路采用光谱仪获取量子点的荧光强度与波长信息,由第二个EMCCD在光谱模式下同步地采集不同时刻下的光谱数据,并根据量子点的光热特性得到量子点的实时温度,两个EMCCD分别将采集的数据发送给计算机,由计算机将不同时刻下量子点的位置与温度匹配,完成对量子点的空间示踪测温。
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