[发明专利]晶体滑移带试验观测方法在审
申请号: | 201910217305.0 | 申请日: | 2019-03-21 |
公开(公告)号: | CN110006749A | 公开(公告)日: | 2019-07-12 |
发明(设计)人: | 田春英;高渤凯;霍俊阳;杨尚谕;徐晨毅 | 申请(专利权)人: | 天津中德应用技术大学 |
主分类号: | G01N3/08 | 分类号: | G01N3/08 |
代理公司: | 天津市三利专利商标代理有限公司 12107 | 代理人: | 杨欢 |
地址: | 300350 天津*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明属于试验教学领域,具体涉及一种晶体滑移带试验观测方法,包括下述步骤:1)试样的预拉伸阶段,两个滑块慢速相向运动,试样被拉伸,预拉伸试样至平直,即处于弹性变形阶段;2)试样滑移带产生与记录阶段,试样继续被拉伸,观察显示屏,试样逐渐产生滑移带,同时在软件上可以拍照和录制视频记录屏幕中滑移带变化信息;3)装置复原阶段。本申请采用金相显微镜与测量仪配合,可以对微观尺度下的滑移带进行放大,对于滑移带的产生和扩展细节观察的更清晰,而且可以实现实时动态观察。 | ||
搜索关键词: | 滑移 试验观测 预拉伸 拉伸 弹性变形阶段 实时动态观察 金相显微镜 变化信息 复原阶段 视频记录 试验教学 微观尺度 相向运动 测量仪 观察 滑块 慢速 平直 显示屏 录制 拍照 放大 屏幕 清晰 记录 申请 配合 | ||
【主权项】:
1.一种晶体滑移带试验观测方法,其特征在于,包括下述步骤:1)试样的预拉伸阶段,根据试样长度尺寸调整测量仪,所述的测量仪包括支架、设置在所述的支架上的固定单元以及拉伸单元;所述的固定单元包括设置在所述的支架上的两个滑块以及设置在所述的滑块上的固定板;所述的拉伸单元包括穿过所述的滑块的丝杠以及与所述的丝杠通过减速机连接的伺服电机;使用时,调整两个滑块的距离,将试样夹持在设置滑块上的固定板上,打开伺服电机的顺指针按钮,使两个滑块慢速相向运动,试样被拉伸,预拉伸试样至平直,即处于弹性变形阶段,关闭伺服电机,停止拉伸,调整显微镜的位置,使物镜对准试样,接着调节显微镜焦轮,使试样的图像清晰为止;打开计算机和显示器,打开与显微镜电连接的软件;2)试样滑移带产生与记录阶段,再次打开伺服电机,转动顺时针旋钮,使两滑块相向运动,试样继续被拉伸,观察显示屏,试样逐渐产生滑移带,同时在软件上可以拍照和录制视频记录屏幕中滑移带变化信息;在试样拉伸过程中,可以按变速旋钮随时调整拉伸速度,也可以随时停止拉伸和继续拉伸,直至拉伸结束或拉断试样,在软件上储存信息;3)装置复原阶段,调整显微镜调焦旋钮,使物镜镜头升高;将拉伸完的试样取出,按伺服电机机的逆时针旋钮,使滑块相对运动,回复到初始位置,关闭电源;关闭计算机。
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