[发明专利]一种频率测量方法、系统、装置及计算机可读存储介质有效

专利信息
申请号: 201910141467.0 申请日: 2019-02-26
公开(公告)号: CN109633266B 公开(公告)日: 2020-12-01
发明(设计)人: 李键;周强;张太勤;刘强;邓泽东 申请(专利权)人: 重庆新世杰电气股份有限公司
主分类号: G01R23/10 分类号: G01R23/10
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 罗满
地址: 401120 重庆*** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明公开了一种频率测量方法,包括根据预设采样频率对被测信号进行采样得到采样值,并根据采样值计算得到被测信号在工频整周期采样点数下的预估频率;根据预估频率确定实际整周期采样点数的范围;分别计算范围内各整周期采样点数对应的各段采样值的和值;选取最接近于零值的和值对应的整周期采样点数作为实际整周期采样点数,并根据采样值计算得到实际整周期采样点数下被测信号的测量频率。该频率测量方法在兼顾计算精度、计算速度等需求的同时,可减弱甚至消除信号频谱泄露对频率测量的影响,提高频率测量精度,满足测量要求。本发明还公开了一种频率测量系统、装置以及计算机可读存储介质,均具有上述技术效果。
搜索关键词: 一种 频率 测量方法 系统 装置 计算机 可读 存储 介质
【主权项】:
1.一种频率测量方法,其特征在于,包括:根据预设采样频率对被测信号进行采样得到采样值,并根据所述采样值计算得到所述被测信号在工频整周期采样点数下的预估频率;根据所述预估频率确定实际整周期采样点数的范围;分别计算所述范围内各整周期采样点数对应的各段所述采样值的和值;选取最接近于零值的所述和值对应的所述整周期采样点数作为所述实际整周期采样点数,并根据所述采样值计算得到所述实际整周期采样点数下所述被测信号的测量频率。
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