[发明专利]X射线多谱分离成像方法、存储介质和装置

摘要

本发明公开一种X射线多谱分离成像方法、存储介质和装置，该方法包括：步骤11：设定被测物的成像电压范围[V1,V2]；步骤12：在[V1,V2]的范围内取N个不同的扫描电压，N大于被测物所包含的材质总数K，且任意两个扫描电压之间的差值大于第一预设值，在每个扫描电压下对被测物进行全角度扫描成像，获得符合成像灰度要求的N个投影图像序列；步骤13：基于N个投影图像序列，求解满足泊松极大似然原理的变能量多谱衰减表达式中的被测物的所有材质对应的投影厚度矩阵D；步骤14：基于D，计算X射线中每个窄能谱段的分离投影pr，r＝1,2…R；步骤15：重建pr得到每个窄能谱段的重建图像ar。本发明的方法可以实现低成本、能谱分辨率高的多能谱CT成像。

主权项

1.一种CT成像方法，其特征在于，所述方法包括：步骤11：设定被测物的成像电压范围[V1,V2]，当V∈[V1,V2]时，所述被测物的穿透率符合第一预设条件、且所述被测物的任意两种材质在所述V时的线性衰减系数的相对偏差满足预设要求对应的能量范围符合第二预设条件；步骤12：在[V1,V2]的范围内取N个不同的扫描电压，所述N大于所述被测物所包含的材质总数K，且任意两个扫描电压之间的差值大于第一预设值，在每个所述扫描电压下对所述被测物进行全角度扫描成像，获得符合成像灰度要求的N个投影图像序列，所述全角度扫描包括T个不同的成像角度；步骤13：基于所述N个投影图像序列，求解满足泊松极大似然原理的变能量多谱衰减表达式中的所述被测物的所有材质对应的投影厚度矩阵D；步骤14：基于所述D，计算所述X射线中每个窄能谱段的分离投影p_r，r＝1,2…R，R为所述X射线的窄能谱段总数；步骤15：重建所述p_r得到所述每个窄能谱段的重建图像a_r。