[发明专利]辐射检测器在审
| 申请号： | 201880095329.7 | 申请日： | 2018-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN112470038A | 公开（公告）日： | 2021-03-09 |
| 发明（设计）人： | 曹培炎;刘雨润 | 申请（专利权）人： | 深圳帧观德芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/24 | 分类号： | G01T1/24 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518071 广东省深圳市南山区桃源街道塘朗*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本文公开一种检测器，其具有在基底中的像素并被配置为检测入射于其上的辐射粒子；所述基底中的第一保护环，其围绕所述像素，并包括所述基底中的第一掺杂半导体区域以及与所述第一掺杂半导体区域电接触的第一导电层；所述基底中的第二保护环，其围绕所述第一保护环，并且包括所述基底中的第二掺杂半导体区域以及与所述第二掺杂半导体区域电接触的第二导电层。所述第一导电层朝向所述第一保护环的内部悬伸于所述第一掺杂半导体区域之上，其悬伸程度比所述第二导电层朝向所述第二保护环的内部悬伸于所述第二掺杂半导体区域之上的悬伸程度大。 | ||
| 搜索关键词： | 辐射 检测器 | ||
【主权项】：
暂无信息
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