[发明专利]自动检查系统以及自动检查方法在审
| 申请号： | 201880059140.2 | 申请日： | 2018-06-06 |
| 公开（公告）号： | CN111066070A | 公开（公告）日： | 2020-04-24 |
| 发明（设计）人： | 本田淳平;西村卓真;柏原广茂 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立制作所 |
| 主分类号： | G08C15/00 | 分类号： | G08C15/00;G08C17/00;G08C19/36;H04Q9/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 金光华 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供一种自动检查系统以及自动检查方法，能够抑制测量装置的功耗。测量装置(1)具备：传感器部(11)，测量检查对象(3)；参数管理部(13)，根据从数据收集装置(2)接收的参数决定用信息来决定对传感器部设定的预定的参数；以及测量数据生成部(12)，通过解析传感器部使用预定的参数对检查对象进行测量得到的数据，生成测量数据，数据收集装置具备：参数决定用信息生成部(23)，生成参数决定用信息；以及测量数据取得部(21)，对测量装置明示参数决定用信息，请求取得测量数据，保存从测量装置取得的测量数据。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 检查 系统 以及 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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