[发明专利]用于分析荧光免疫斑点测定的方法和系统在审
| 申请号： | 201880053531.3 | 申请日： | 2018-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN110998330A | 公开（公告）日： | 2020-04-10 |
| 发明（设计）人： | 克里斯蒂安·斯梅德曼;约金·贾尔登;丹尼尔·佩利康;波尔·德尔阿吉拉普拉;克拉斯·马格努森 | 申请（专利权）人： | 迈博太科产品公司 |
| 主分类号： | G01N33/58 | 分类号： | G01N33/58 |
| 代理公司： | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 | 代理人： | 王达佐;王艳春 |
| 地址： | 瑞典*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 公开了一种用于分析荧光免疫斑点测定的方法。该方法包括：用至少一种激发光照射测定板的孔；针对每一种激发光，以原始图像格式捕获孔的至少一个图像；针对每一种激发光生成孔中的分析物释放分布的模型；以及将多个共同位置的荧光免疫斑点聚类为多分泌物荧光免疫斑点，其中针对所有生成的模型执行聚类，并且其中聚类确定了至少一个多分泌物荧光免疫斑点。针对给定的激发光生成分析物释放分布的模型包括：将孔的捕获的至少一个图像去卷积以估计预扩散分析物分布；以及基于其中的局部极大值来检测潜在分析物释放位点。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 分析 荧光 免疫 斑点 测定 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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